衡翼動態(tài)彎曲測試設(shè)備執(zhí)行GB/T 17554.1-2025是新發(fā)布的卡及身份識別安全設(shè)備測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)，執(zhí)行雙向扭轉(zhuǎn)測試。2025年9月1日正式實(shí)施，替代2006版標(biāo)準(zhǔn)。

本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T16649.1，GB/T 17554.1-2025國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); 符合以上標(biāo)準(zhǔn)，用于檢測磁條卡，IC芯片卡，智能卡、交通卡、醫(yī)療卡、社?？?、集成電路卡等卡的彎曲和扭曲性能測試。

衡翼動態(tài)彎曲測試設(shè)備測試的目的是確定由于對卡測試樣品重復(fù)施加扭曲應(yīng)力而對其產(chǎn)生的任何不利的機(jī)械或功能影響。

衡翼動態(tài)彎曲測試設(shè)備測試原理：將樣品卡放在衡翼動態(tài)彎扭曲試驗(yàn)機(jī)的鉗口之間，定位使得彎曲圍繞軸A ,諾卡有觸點(diǎn)，則應(yīng)首先將觸點(diǎn)置于上面。采用基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)提定的彎曲總數(shù)的四分之一，若沒有指定這樣的數(shù)字，則采用250次彎曲，重新定卡，使卡的另一面位于上方，但彎曲仍然圍繞軸A.采用與之前相同次數(shù)的彎曲。

重新定卡并重置試驗(yàn)機(jī)，使卡的原始面朝上，但彎曲圍繞軸B，若卡有觸點(diǎn)，則它應(yīng)位于此面，即觸點(diǎn)位于上面。重新定卡，使卡的另一面位于上方，但彎曲仍然圍繞軸B . 采用與之前相同次數(shù)的彎曲。

兩組彎曲這間的時間，以及一組彎曲和完成卡的可測試功能測試的時間應(yīng)不超過1h.

衡翼扭曲測試原理：將測試卡放置在衡翼上，使其松動地固定在兩個導(dǎo)軌的凹槽中，調(diào)整距離d，使卡的短邊可相對于中間位置旋轉(zhuǎn)±α的角度，將測試頻率設(shè)置為0.5 Hz，將旋轉(zhuǎn)角α置為15°±1°，并執(zhí)行基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的扭曲循環(huán)次數(shù)， 如果未規(guī)定，則執(zhí)行1000次扭曲循環(huán)。在測試開始和結(jié)束時檢查卡的可測試功能。也可以在測試期間，在基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的扭曲循環(huán)次數(shù)的 四分之一之后進(jìn)行檢查。

技術(shù)參數(shù)：

型號：HY(IC)

測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期：1~9999次

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，總扭曲角度30°

長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為2mm±0.50mm，

短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為1mm±0.50mm，

長邊彎曲工位數(shù)：5工位

短邊彎曲工位數(shù)：5工位

雙向扭轉(zhuǎn)工位數(shù)：5工位 

外形尺寸：L745 X W380 X H300

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W